功能
* 薄膜及波导折射率/厚度测量,包括梯度折射率的测量
* 体材料折射率的测量
* 薄膜及体材料的双折射测量
* 移动光纤测试波导损耗
主要技术指标
* 折射率准确度:±0.0005 （甚至更高 0.0001-0.0002）
* 折射率分辨率: ±0.0003（甚至高于0.00005）
* 厚度精度:±（0.5%+50?） 厚度分辨率:±0.3%
* 折射率测量范围:1.0-3.35
* 操作波长:632.8nm,1310nm,1550nm以及其他可见光/近红外光
* 允许的基底材料:硅、砷化镓、玻璃、石英、GGG、蓝宝石、锂酸铌等
* 软件:windows version 操作软件
* 输出:计算机显示和打印机输出
主要应用领域：
* 光波导器件
* 激光晶体材料
* 聚合物材料
* 显示技术材料
* 光/磁存储材料
* 光学薄膜
更多详情请咨询：http://www.bjxfgd.com/bjteo-SonList-427904/
http://www.chem17.com/st169046/erlist_427904.html